武汉厘米自动化设备有限公司
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分析测试探针系统
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精密减振系统

标准测试探针台

标准测试探针台
  • 产品介绍
  • 主要技术指标
·高精度定位和测量:分析测试探针台用于对微小光学器件、集成电路和半导体元件进行精确定位和测量。通过高精度的机械系统和显微镜,实现对微小器件的纳米级定位和检测。
·电气特性分析:测试并分析光学器件、电路和半导体元件的电气特性,如电阻、电容、电流和电压特性。用于研发、生产和质量控制等环节,帮助识别和解决电气性能问题。
·光学性能分析:在光通信领域,探针台可以进行光学器件的耦合、对准和光学特性分析。适用于光纤耦合、激光器测试和光器件性能评估。
·故障分析和排查:分析测试探针台能够识别和定位微小器件中的故障点,帮助工程师进行故障排查和修复。适用于新产品开发和现有产品的改进。

分类 参数名称 参数值
主机 样品台尺寸 4 寸 / 6 寸 / 8 寸 / 12 寸
水平旋转 360° 旋转,微调 ±15 度,最小分辨率 0.1 度,带角度锁死装置
XY 移动量 (手动) X:100mm Y: 150mm
XY 移动分辨率 1mm
Z 轴移动量(手动) Z: 10mm 最小分辨率 10μm / 刻度
样品台材质 不锈钢(可选镀金及无磁材质)
样品台固定 真空吸附
观察系统 Zoom 光学放大倍 0.8 ~ 5X
工作距离 80 ~ 115mm
光源 环形光源
Camera 1920x1080 分辨率(可选 4K 高清相机)
探针座 XYZ 移动量 X:12mm Y: 12mm Z: 12mm
移动精度 ±0.5μm/±0.75/±0.1/±2μm 可选
吸附方式 磁力吸附